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　　在線涂層測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。雖然幾種測(cè)厚儀在校準(zhǔn)中測(cè)量點(diǎn)和標(biāo)準(zhǔn)材料的選擇上有很多不同，但在操作中都有一些相同的需要注意的地方，如每種測(cè)厚儀對(duì)基體的表面曲率和厚度都有一個(gè)下限的規(guī)定，在實(shí)際校準(zhǔn)中應(yīng)選擇尺寸合理的基體進(jìn)行操作；測(cè)量中測(cè)頭的取向和壓力也會(huì)對(duì)結(jié)果有影響，要保持測(cè)頭與基體的垂直、壓力恒定并盡可能?。涣硗?，校準(zhǔn)覆層測(cè)厚儀時(shí)還要注意外界磁場(chǎng)和基體剩磁的干擾，校準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀時(shí)要注意溫度變化和耦合劑粘度的影響。

　　影響在線涂層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素如下：
　　1.基體金屬磁性變化，為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
　　2.測(cè)量基體金屬厚度，基體金屬有一定臨界厚度，超過厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
　　3.邊緣效應(yīng)，在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不準(zhǔn)確的，校對(duì)試片盡量在試片中間以減少誤差。
　　4.測(cè)量件曲率，試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
　　5.被測(cè)物體表面粗糙度，基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
　　6.磁場(chǎng)，被測(cè)物體周圍磁場(chǎng)會(huì)干擾磁性測(cè)量，影響涂層測(cè)厚儀精度。
　　7.附著物質(zhì)，本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。